高溫老化試驗(yàn)箱什么時(shí)候縮短設(shè)備早期故障？
2022-09-01 15:35 林頻儀器
高溫老化試驗(yàn)箱什么時(shí)候會(huì)縮短設(shè)備的早期故障,？為了使產(chǎn)品達(dá)到滿意的合格率,，大多數(shù)制造商在出廠前必須通過高溫老化試驗(yàn)箱的老化試驗(yàn),，小編將為您解釋，這樣可以降低和縮短老化過程帶來的成本和時(shí)間問題,。
與其他產(chǎn)品一樣，半導(dǎo)體設(shè)備可能會(huì)因各種原因隨時(shí)出現(xiàn)故障,。高溫老化試驗(yàn)箱是使半導(dǎo)體在短時(shí)間內(nèi)超載,，避免早期使用故障。通常,，由于設(shè)備和制造工藝的復(fù)雜性,，未經(jīng)老化試驗(yàn)的半導(dǎo)體成品在使用中會(huì)出現(xiàn)許多問題。
注：半導(dǎo)體早期故障是指開始使用后幾小時(shí)至幾天內(nèi)出現(xiàn)的缺陷（取決于制造工藝的成熟度和裝置的整體結(jié)構(gòu)）,。高溫老化試驗(yàn)箱老化后的裝置基本上需要全部通過這段時(shí)間,。我司技術(shù)部認(rèn)為，準(zhǔn)確確定老化時(shí)間方法是參考以往收集的老化故障和故障分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),，而大多數(shù)制造商希望減少或取消老化,。
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